大葉大學圖書館 |

言語: 日文

ログイン

ホームページ

スイッチ: ラベル | MARC形式 | 国際標準書誌記述(ISBD)

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度

~

McCluskey,Edward J.

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度

レコード種別:	言語・文字資料 (印刷物) : モノグラフ
著者:	McCluskey,Edward J.
副次的な著作責任 :	林正中
出版地:	台北市
出版された:	新智出版社有限公司;
出版年:	1988
版次:	初版
記述:	595頁 : 24x17公分;
主題:	電路 -
注記:	譯自: Logic design principles : with emphasis on testable semicustom circuits

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
McCluskey,Edward J.

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度 / McCluskey,Edward J. 著 ; 林正中譯 - 初版. - 台北市 : 新智出版社有限公司, 1988. - 595頁 ; 24x17公分.
譯自: Logic design principles : with emphasis on testable semicustom circuits.
電路

林正中

邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度
LDR:00481nam 2200145 450 001 280888
009 9218291
100 $a 20100608d1988 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 邏輯設計原理 : 專章討論降低電路測試難度 $f McCluskey,Edward J. 著 $g 林正中譯
205 $a 初版
210 $a 台北市 $c 新智出版社有限公司 $d 1988
215 $a 595頁 $d 24x17公分
300 $a 譯自: Logic design principles : with emphasis on testable semicustom circuits
606 $a 電路 $3 236
700 $a McCluskey,Edward J. $4 著 $3 310801
702 $a 林正中 $4 譯 $3 310802
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20071112

～に基づいて 0 論評

所藏資料

1 レコード • ページ 1 •
1

[NT 5000115] Inventory Number

所在地名称

一般資料表示

801471540000023

三樓中文圖書區

1.圖書流通

圖書

471.54 M132

1.一般(Normal)

在籍

0

1 レコード • ページ 1 •
1

論評

論評を追加あなたの考えを共有してください。

Export

受取館

パスワードを変更する

ログイン